UNFORS Xi 射線放射評價系統(tǒng)

  UNFORS Xi 射線放射評價系統(tǒng)簡介：

可用于檢測所有診斷用X光設(shè)備，包括一般的工頻X線發(fā)生器和高檔的變頻X線高壓發(fā)生器的X光機、拍片機、透視機、脈沖透視機、牙科機、全景牙科機、牙科CT機、低劑量CR機、DR機、小型便攜式X光機、DSA（數(shù)字減影系統(tǒng)）、不同靶材的乳腺機、掃描乳腺機、CT機等醫(yī)用X光機安全質(zhì)量性能檢測。 
同時還具備測量光照度，測量散漏射線的功能。檢測探頭小巧，更便于檢測對探頭擺放位置要求嚴(yán)格的設(shè)備如全景牙科機等。

UNFORS Xi 射線放射評價系統(tǒng)測量方式：

   a）一臺主機可以搭配不同探頭用以滿足不同客戶的需求，并可以根據(jù)客戶需求將探頭功能分離和整合。

   b）配備專業(yè)數(shù)據(jù)處理軟件，基于微軟技術(shù)，用于顯示存儲分析檢測數(shù)據(jù)、波形，生成測試報告，并可以通過藍牙無線連接或RS232有線連接與主機進行實時通訊與雙向控制。

   c）半導(dǎo)體固態(tài)探頭，體積小巧大大增加了設(shè)備的便攜性（zui輕探頭僅50g），相比電離室探頭不受外界環(huán)境溫濕度的影響。

  d）測量低劑量率時無需更換探頭

測量模式

   主機須自帶顯示器，主機無須外接顯示器。可以一次曝光可同時測量電壓，劑量，劑量率，半價層，脈沖，脈沖率，每脈沖劑量，曝光時間，連接mAs連接線可同時顯示mA，mAs.，連接外接設(shè)備可以同時顯示測量參數(shù)波形包括kV，dose，mA的波形。

   可以測量多種光束質(zhì)量的乳腺機以及掃描乳腺機，光束質(zhì)量包括Mo/Mo, Mo/Al, Mo/Rh, Rh/Rh, Rh/Al, W/Rh,, W/Ag, W/Al。 同時一次曝光可以直接測量出乳腺機半價層。

屏幕亮度計：

測量范圍：0.01~19990cd/m2 

精度：≥測量值的±0.5%±1個字 

準(zhǔn)確度：≤測量值的±4%±1個字（相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)） 

光譜響應(yīng)特性：符合*標(biāo)準(zhǔn)

線性誤差：≤測量值的±0.2%±1個字

溫度特性：≤測量值的±0.1%/℃±1個字

長期穩(wěn)定性：年變化<2%